昆二晶

半導(dǎo)體器件品牌企業(yè)變頻器、軟起動(dòng)器行業(yè)服務(wù)商

供應(yīng)熱線0577-6262755518058357161

您的位置:首頁 >昆二晶新聞中心 >新聞資訊 >產(chǎn)品百科

怎么區(qū)分可控硅模塊的損壞緣由

來源:昆二晶發(fā)布日期:2018-07-07關(guān)注:-
        當(dāng)可控硅模塊損壞后需求查看剖析其緣由時(shí),可把管芯從冷卻套中取出,翻開芯盒再取出芯片,調(diào)查其損壞后的痕跡,以判別是何緣由。下面介紹幾種常見表象剖析。
        電流損壞。電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個(gè)凹坑,且粗糙,其方位在遠(yuǎn)離操控極上。
        電壓擊穿??煽毓枘K因不能接受電壓而損壞,其芯片中有一個(gè)光亮的小孔,有時(shí)需用擴(kuò)展鏡才干看見。其緣由可能是管子自身耐壓降低或被電路斷開時(shí)發(fā)生的高電壓擊穿。

可控硅模塊


        電流上升率損壞。其痕跡與電流損壞一樣,而其方位在操控極鄰近或就在操控極上。
        邊際損壞。他發(fā)生在芯片外圓倒角處,有細(xì)微光亮小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細(xì)細(xì)金屬物劃痕。這是制作廠家裝置不小心所形成的。它致使電壓擊穿。
        以上4種緣由都是可控硅模塊的常見損壞緣由,遇到可控硅模塊損壞事情,應(yīng)鎮(zhèn)定剖析。
        昆二晶可控硅模塊,我們用最專業(yè)的態(tài)度,關(guān)注您最細(xì)微的問題,想客戶之所想,急客戶之所急,用十分的品質(zhì),填平您一分的擔(dān)憂。您若對(duì)我們的可控硅模塊有興趣或存在疑惑,昆二晶歡迎您咨詢,咨詢電話:0577-62627555,我們等著您!

產(chǎn)品推薦

快速通道Express Lane

產(chǎn)品專題
應(yīng)用領(lǐng)域
微信 關(guān)注微信關(guān)注微信 咨詢 電話0577-62627555 留言 TOP